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Diffractomètre X'Pert de PANalytical

Publié le 13 novembre 2018



Identification de phase, affinement de structure, détermination de la microstructure (gradient de paramètres de maille, taille de cristallites...) sur échantillons polycristallins.

Détermination de la cristallinité de membranes polymériques anisotropes.

• source : tube 2,2 kW "long fine focus" avec anode Cu
• goniomètre vertical de type
θ/2θ, de rayon 200 mm
• optique Bragg-Brentano
Soller 0,02 ou 0,04 rd
fente de divergence fixe ou variable (longueur irradiée constante)
fente d'anti-diffusion
• Passeur échantillons 15 positions
• Possibilité de mesurer en transmission avec contrôle de la rotation dans le plan de l'échantillon (intéressant notamment pour échantillons membranaires)
• Détecteur linéaire X'Celerator

Identification de phase, affinement de structure, détermination de la microstructure (gradient de paramètres de maille, taille de cristallites...) sur échantillons polycristallins.

Programmes de traitement/analyse des données
• Base de données ICDD
• Highscore Plus (identification de phase, détermination des paramètres de maille, de la taille de cristallites, affinement Rietveld)
• Fullprof (affinement Rietveld)
• Routines "maison" d'affinement de profil de pic sous Igor Pro

Contact
Stéphanie Pouget.