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Diffractomètre Haute résolution et in-plane SMARTLAB

Publié le 22 novembre 2018



En 2015 nous avons accueilli un diffractomètre de rayons X Smartlab de la marque RIGAKU. Il est équipé d’une source à anode tournante 9KW au Cu. C’est un équipement très versatile permettant d’effectuer, selon les besoins, des expériences de diffraction permettant d'obtenir des informations sur la structure parallèle (vecteur Q out-of plane) ou perpendiculaire (vecteur Q in-plane) à la surface de l'échantillon, en haute ou en moyenne résolution, sur des couches de matériaux massifx ou nanostructurés.
Il est géré conjointement par l’Institut Néel et notre institut.

Spécificités
Cet équipement permet de faire des études sur :
• grande diversité de matériaux : métalliques, semiconducteurs, couches organiques
• géométries variées : des structures bidimensionnelles qui vont depuis le dépôt de quelques monocouches à quelques nanomètres sur un substrat à la fabrication de super-réseaux complexes, ou de nano-objets tridimensionnels tels que les nano-cristaux ou les nanofils
• tailles caractéristiques de quelques dizaines de nanomètres à quelques micromètres.
Les études permettent d'obtenir des informations sur différents paramètres comme : structure, contrainte, relaxation, composition, défauts.

Caractéristiques techniques
• Source 9 kW "long fine focus" anode Cu
• Goniomètre avec échantillon horizontal fixe ; configuration (
θ-θ)
• Bras détecteur avec deux axes de liberté perpendiculaires (2
θ et 2θchi)

Optique amont
• Très Haute résolution : miroir Parabolique + Monochromateur Gobels 4 réflexions (220) Ge - Divergence 0,0033 deg
• Haute résolution : Miroir Parabolique + Monochromateur Gobels 2 réflexions (220) Ge Divergence 0,01 deg
• Moyenne résolution : collimateurs plan divergence 0,25 et 0,15 deg

Optique aval
• Haute résolution : analyseur 2 réflexions (220) Ge
• Moyenne résolution : collimateurs plan divergence 0,28 et 0,114 deg
• Détecteur ponctuel proportionnel
• Détecteur 1D
• moteur oméga et 2
θ (précision 0,0001 deg)
• Platine échantillon chi (-90 ; +90),
φ 360 deg, z (course de 5 mm) + berceau Rx, Ry motorisé de +-5 degrés
• Platine de translation x,y de 20 mm
• Mode haute résolution : mesure dynamique > 107 + faisceau incident 5x106 cps - bruit de fond < 1cps

Environnement échantillon
• Four permettant d’atteindre 1100 degrés (sous vide ou atmosphère inerte). Pour mesures dans le plan et hors du plan.

Pour plus de détails contacter
Eric Mossang
Edith Bellet-Amalric
Stéphanie Pouget


Site de réservation
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