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Soutenance de thèse de Yiran Lu

Développement de l'analyse quantitative des images 4D-STEM : la ptychographie électronique

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Publié le 21 octobre 2025
Résumé en anglais

Direction de thèse : Martien DEN HERTOG (CNRS/Institut Néel) et Jean-Luc ROUVIERE (CEA/Irig/​Mem/Lemma)​​